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详细说明:文档所有内容均为本人独自翻译,英语水平欠佳,可以会有翻译出现偏差的地方,但是对于通过iic进行操作本芯片,本人已经能通过本翻译档进行成功操作,如有错误,欢迎各位指正谢谢!UM2039
Contents
51.1仅开始测量
15
5.12开始测量且等待数据准各就绪
15
5.1.3开始测量,等待数据准备就绪并报告数据...
52停止一次测量
15
53取待结果
16
5.3.1主机轮询以获得结果状态.
16
532取得测量结果
.16
AP有用的附加功能
n17
61总体时间预算
17
62限制设置
17
63定时测量
,18
64AP版本和产品修订
重重
18
65AP状态和AP错误
19
6612C设备地址
20
67复位
20
68中断设置
20
示例AP模式配置
.,22
7.1高精度
■■111■■■■
1
22
72长距离.
高速
23
首字母缩写和缩写
24
修订历史
25
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概述
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概述
L53L0X的AP是基于光子扣象层PAL)描述的。AP|被定义为PAL的实现。
AP公开了用户用于控制设备的高等级函数。
Note
完整的AP,以AP包的形式chm和pd格式提供。
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初始用户制造校准
2初始用户制造校准
在制迨过程中,有一个初始的,仅一次的需要依赖于客户层面的校准步骤。此沇程考虑了
应用中的所有参数(包含有玻璃,温度和电压)。
客户伺造标准流程如 Figure2所小。
Figure2用户制造校准流程
Datal nito
De vice
40
initialization
StaticI nit(
PerformReferences
SPADS
PADManage ment(
noms
calibration
Perform RefCalibrat
Calibration
Temperature
data
rams
calibrati
Set white target
Offset
300ms*
PerformOffset Calib
Calibration
calibration
ation
Set grey tar get
CrossTalk
PerformXTalkCalibr
Calibration
calibration
ation(
Ke
Host action
Host calls APl
needed
Calibration
Calibration
Data result
Timings are given for information only, they can vary
depend ing on the host capabi litie
以下儿节详细介绍∫执行初始化系统校准所需要调用的AP|凶数
数据初始化
2.1
vL53L0 X Datainit()函数只需要调用一次,它用于扶行设备的初始化操作。
在设备脱离重置后被调用次并且只调用次
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Initial customer manufacturing calibration
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静态初始化
53 lox Staticinit()允诈装载用于特定的给定使用状况的模块设置。
参考 SPADS校准
2.3
为了优化系统的动态特性,需要执行参考 SPADS校准。
此骤在 STMicroelectronics的最终模块测试中以裸模块的执行,校准数据( SPAD numbers
and type)存储在设备的NVM中
如果在ⅥL53L0X覆盖有一层玻璃的语,参考 SPADS需要由用户自行重新进行校准
在初始制造校准过程中,参考SPAD校准只需要进行一次,校准数据需要存储在主机中。
如果校准已经执行过,校准数据已冇储在主杋中且可以读取,那么校准数据可以育接裝载而
不需要再次执行校准。
这些函数可以在执行V530 x Staticinit()后执行。它需要在 Ref calibration
VZ53L0 X PerformRefcalibration()之前完成。
参考 SPADS校准步骤
不在特殊环境下伩用ε校准则不需要特定的目标或光照环境。
以下的步骤需要被扶行
2.3.1
执行53L0 X PerformRefSpadManagement()
此函数输岀所用到的参考 SPADS的数字和类型。
在此函数的末尾,参考 SPADs的数字和类型在设备中编程
主机需要存储这两个值。 Section4.3.1介绍了如句从主机中装载校准数据。
如果在参考SPAD校准有一个强反射的日标覆盖在v53L0X上,基准阵列上将会收到太多
的信号,校将可能失败并返间-50状码。在这种情况下,用户需要将该标从设备中
移除。
Ref(温度)校准
Ref校准是对依赖于温度的树个参数( VHV and phase ca)的标定。这两个参数用来设置模
块的灵敏度
Ref恔准允许在温度变化时调整设备的灵敏度。
Ref校准必须在初始制造校准中执行,且当温度变化比初始校准温度高8度时需要重新进行
校准。如果温庋没有变化,那么ref校准数据可以装载而不需要重新执行校准步骤。
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Initial customer manufacturing calibration
241Ref校准步骤
用广有两个选项
1.在v53L0 X PerformRefsPADManagement后调用
vL53L0 x PerformRe fca1⊥ bration()执行校淮。
2.如果用户想要提高启动时间,可以在V53L0 X PerformRefSPADManagement后使
用VL53L0 X SetRefcalibration()只装载校准参数。这假定了用户已经提前执
行了咬准并且在上机中存储了两个校准参数。参见 Section43.2
执行ref校准没冇特定的计划。丈只需要在偏移淏差校准和申扰校准完成之前,在参考
SPADS管理之后且在执行第一次测量之前完成即可。
偏移误差校准( offset calibration)
2.5
偏移误差恔准在sτ Microelectronics执行最终模块测试时执行,补偿值将存储在设备的NVM
中
在某些情况下,编程存储在NVM中的值是不止桷的。这可能出现在用户使用了一个覆盖
窗。在这和情况下,测距可能会受到因为覆盖窗而导致的偏移的影响,因此用户需要在其生
产线上执行一次新的偏移误差校准
2.5.1
偏移误差校准步骤
·推荐在黑暗环境中在100mm处放置一个白色的(88%反射率)标。目标的距离可以根据
客户的约束条件而变化,但必须在测距由线的线性部分进行选择。
参考 SPADs and re校准都必须要在执行偏移误差校准之前执行。
需要调用一个专用的AP函数来计算补偿值:
VL53LOX PerformoffsetCalibration (
酉数的输出结果是偏移误差校准值,羊位为微米
偏移误差校准值需要存储在主机中.参看 Section4.3.3洴述的从主杋中加载校准数据。
26串扰校准
本节说明覆盖窗对测量产生的影响并提供了一种串扰校准的方法
覆盖窗对测量的影响
2.6.1
测距性能取决于覆盖窗的质量。Fgue3展示了覆盖窗对测量的低;中,高串扰影响。
绿色的点画线是理想曲线(没有覆盖窗)。
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Figure3.覆盖窗对测量的影响
800
-LcwXtalk
MedXtalk
700
HighXtalk
600
500
00
300
200
100
0
0100200300400500600700800
Actual Target Distance(mm)
串扰修正基本上是一个基于校准结果的应用于沨量数据的加权增益。
修止低串扰误差比修止高串扰误差要容易。
串扰校准距离
2.6.2
校准距离取决于覆谧窗的质量。低串扰或高串扰校准不能在冋一个距离上执行。
执行串扰校准的有效距离的起点是当实际信号开始从理想曲线上偏离时的点。
如果在测量曲线的线性部分进行串扰饺准,校正系数太低,校正几乎没有效果。
当测量信号开始太低时的点是有效距离的终点。(测量距离开始减小)
Fjue4:挑校傕有效距离提供」一个拒绝域的例子。在此区域內不应该进行肀扰校准。
在此图表中,t串扰校准的有效距离是从点A到点B.
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Initial customer manufacturing calibration
Figure 4. Cross-talk calibration valid distances
Exclusion areas for Low XtalkExclusion areas for Med Xtalk
A
B
A B
800
Low Xtalk
Medxtalk
700
700
500
600
TW
500
500
400
400
300
200
200
100
0100200300400500600700800
0100200300400500600700800
Actual Target Distance(mm)
Actual Target Distance(mm)
2.63串扰校准步骤
以下的步骤需要执行
执行偏移误差校准,参考 Section2.5: Offset calibration
基丁所使用的覆盖窗选择一个校准距离,如 Section26.2: Cross-ta/ k calibration
distance所描述的。
使用一个灰色的17%反射率的日标。
调用AP校准函数:V5370 X PertormXa1 calibration!
这个函数的输入是以毫米为单位的校准距离
输出为串扰比率。这需要被存储在主机中
此函数应用并使能串扰修正。
存储串扰比率在主机中。参见 Section4.3.4所说明的从主机中加载校准数据
端不需要做何情,除了调用此的数外,所有的操作都的APM公·
AP所数w530 X PerforaTa1 cAlibration()执行几项测量,方法和计算,主机
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Range profile phases
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阶段范围简介
本节描述了使用ⅥL53L0X在复位后执行第一次测距所需要的三个阶段。
如下有三个阶段:
初始化&装纹校准数据
测量
数字内务-参见 Section6.2: Limit settings
3.1
初始化校准阶段
初始化校准沇程描述在 Figure5: Initialization flow on page1
所有的初始化定义都在 Section4: System initialization/ calibration on page13.
初始化/校准阶段只需要在重置或系统/设貴改变的时候执行一次。
32测量阶段
测量沇程都描述在Fgue6:V53L0 X AP/ ranging flow on page12.
第一次测距(重置后)前需要先执行初始化和校准流程。
测量流程中所使用到的基本区数都描述在 Section5: Ranging on page15
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