文件名称:
Al含量对TiAlSiN薄膜常温及高温微观形貌的影响
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文件大小: 715kb
下载次数: 0
上传时间: 2020-06-28
详细说明：采用弧离子增强磁控溅射(AEMS)方法制备了TiAlSiN多元硬质薄膜,研究了不同Al含量对薄膜常温及高温微观形貌的影响。结果表明,此类薄膜均具有致密的显微组织,对应于特定Al含量,薄膜表面形貌最优,缺陷最少;薄膜高温热稳定性和抗氧化能力优异,800℃未观察到明显的表面显微组织变化。
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