文件名称:
扩散映射K近邻在工业过程故障检测中的应用
开发工具:
文件大小: 1010kb
下载次数: 0
上传时间: 2020-06-28
详细说明：针对半导体工业过程多工序、变量非线性、非高斯分布等特征,提出一种基于扩散映射的K近邻(DMKNN)故障检测方法.充分利用扩散映射(DM)降维,提取低维流行特性,保留数据集内在非线性结构特性,应用改进的KNN故障诊断方法在低维流行特征空间进行检测.研究结果表明:与传统K近邻技术的统计方法相比,DMKNN的故障检测率高于其他算法,提升了对数据样本关联性信息的有效提取能力,保持了K近邻处理非线性、多模态检测问题的性能,验证了该方法的有效性.
(系统自动生成,下载前可以参看下载内容)
下载文件列表
相关说明
- 本站资源为会员上传分享交流与学习,如有侵犯您的权益,请联系我们删除.
- 本站是交换下载平台，提供交流渠道，下载内容来自于网络，除下载问题外，其它问题请自行百度。
- 本站已设置防盗链，请勿用迅雷、QQ旋风等多线程下载软件下载资源，下载后用WinRAR最新版进行解压.
- 如果您发现内容无法下载，请稍后再次尝试；或者到消费记录里找到下载记录反馈给我们.
- 下载后发现下载的内容跟说明不相乎，请到消费记录里找到下载记录反馈给我们，经确认后退回积分.
- 如下载前有疑问，可以通过点击"提供者"的名字，查看对方的联系方式，联系对方咨询.
