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上传时间: 2020-07-29
详细说明：随着器件物理尺寸的不断缩小和电压门限的不断降低，越来越多的人认识到测试过程中过大的功耗会影响数字IC的可靠性，并导致电源引起的故障、过早失效，以及最终测试时发生错误问题。这些现象的发生要求制造测试采用特殊的电源管理和低功率设计技术。
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