文件名称:
IC测试数据常用的一些统计算方法2.docx
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文件大小: 57kb
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上传时间: 2020-07-27
详细说明：IC测试数据常用的一些统计算方法：最小值、最大值、平均值、均方差这四个常用的统计值虽然比较普通，但它们可能是后面的一些统计算法的基础，所以在此进行简单介绍。
最小值（Min）：针对某个测试参数，一批测试数据中的最小值
最大值（Max）：针对某个测试参数，一批测试数据中的最大值
平均值（Mean）：针对某个测试参数，一批测试数据的平均值
标准差（Statistical Standard Deviation）：又常称均方差，是离均差平方的算术平均数的平方根，用σ表示。标准差是方差的算术平方根。标准差是一组数据平均值分散程度的一种度量。一个较大的标准差，代表大部分数值和其平均值之间差异较大；一个较小的标准差，代表这些数值较接近平均值。
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