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上传时间: 2020-08-13
详细说明：本文所介绍的误码测试系统采用以大规模现场可编程逻辑器件FPGA及外围接口芯片构成，文中详细介绍了系统硬件架构中EI接口电路以及FPGA内核中序列发生模块和序列接收模块中核心内容的设计方法，并给出了部分模块的仿真波形。
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