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上传时间: 2020-08-26
详细说明：用万用表检测集成电路的方法
该法是通过检测ＩＣ电源进线的总电流，来判断ＩＣ好坏的一种方法。由于ＩＣ内部绝大多数为直接耦合，ＩＣ损坏时（如某一个ＰＮ结击穿或开路）会引起后级饱和与截止，使总电流发生变化。所以通过测量总电流的方法可以判断ＩＣ的好坏。也可用测量电源通路中电阻的电压降，用欧姆定律计算出总电流值。
以上检测方法，各有利弊，在实际应用中最好将各种方法结合起来，灵活运用。
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