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上传时间: 2020-10-16
详细说明：由辐射粒子引起的多单元翻转（MCUs）已经成为了影响存储器可靠性的一个主要问题。而存储器抗MCUs的加固方法一般是使用可以纠正多个错误的错误纠正码（ECCs）。使用了正交拉丁方（OLS）码的故障容错系统被构造用以纠正存储器中的多个错误。OLS码是一类一步大数逻辑可译（OS-MLD）码，可以使用非常简单的大数逻辑电路来进行译码。由Verilog硬件描述语言实现设计，并且使用ModelSim进行了功能验证。
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