文件名称:
浅析IC测试开发流程及量产数据对产品设计的影响
开发工具:
文件大小: 538kb
下载次数: 0
上传时间: 2020-10-16
详细说明:集成电路行业作为信息产业的基础,其应用领域上至国防军工下至家用电器。测试技术是检测集成电路质量好坏的重要环节,对集成电路进行测试可有效提高芯片的成品率。测试的主要目的是保证芯片在恶劣环境下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。主要论述半导体后道测试对产品工艺的影响,旨在降低测试成本,提高测试质量及测试精度。
(系统自动生成,下载前可以参看下载内容)
下载文件列表
相关说明
- 本站资源为会员上传分享交流与学习,如有侵犯您的权益,请联系我们删除.
- 本站是交换下载平台,提供交流渠道,下载内容来自于网络,除下载问题外,其它问题请自行百度。
- 本站已设置防盗链,请勿用迅雷、QQ旋风等多线程下载软件下载资源,下载后用WinRAR最新版进行解压.
- 如果您发现内容无法下载,请稍后再次尝试;或者到消费记录里找到下载记录反馈给我们.
- 下载后发现下载的内容跟说明不相乎,请到消费记录里找到下载记录反馈给我们,经确认后退回积分.
- 如下载前有疑问,可以通过点击"提供者"的名字,查看对方的联系方式,联系对方咨询.