文件名称:
星载65 nm抗辐射GNSS接收机ASIC的SEFI实验方法
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文件大小: 388kb
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上传时间: 2020-10-16
详细说明：在抗辐射GNSS接收机的研发过程中，由于Xilinx 600万门FPGA在轨单粒子翻转（Single Event Upset，SEU）效应严重，而自主研发抗辐射GNSS接收机ASIC是最有效的解决办法。以航天五院重点型号项目“XX-2”项目为依托，在国内首次采用65 nm抗辐射工艺，用单个ASIC芯片实现了1 200万门规模的星载抗辐射GNSS接收机ASIC。但是，对此款新工艺/大规模/功能复杂的ASIC芯片进行单粒子功能中断测定是一个难题。通过在FPGA上模拟GNSS数字中频信号和DSP配置输入，然后由芯片的EMIF接口实时读取芯片内部关键数据来进行SEU/ SEFI的判断，并设计了SEFI判断准则和相应的辐照实验实现方案。
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