文件名称:
基于高速ADC的TOF-SIMS数据采集系统
开发工具:
文件大小: 357kb
下载次数: 0
上传时间: 2020-10-16
详细说明：设计了一种适用于飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)的数据采集系统。系统使用高速模数转换(ADC)芯片对模拟信号进行采样，以FPGA作为时序控制器，采用DDR3 SDRAM进行数据缓存，通过PCI-Express(PCIE)总线与上位机进行高速数据传输，并对ADC动态性能和PCI-Express总线的读写速度进行测试。结果表明，系统采集频率为400 MHz的正弦信号时，ADC的信噪比为56.333 dB，总谐波失真为-63.509 dB，有效位数为8.995 bit；PCI-Express总线写速度为1 135 MB/s，读速度为1 002 MB/s。测试结果满足TOF-SIMS仪器需求。
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