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文件名称: 试验和老化插座的发展
  所属分类: 其它
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  上传时间: 2020-10-22
  提 供 者: weixin_********
 详细说明:试验插座的设计必须满足当今试验环境的电气要求而不牺牲机械性能。   1.   引言   现代高密度和高速度集成电路(IC)器件已经改变了试验插座设计师对于机械和电气性能特性的设想。坚固、长期耐久的插座仍然是至关重要的,但是散热电气参数和材料的重要性日益凸现。正在设计的高性能试验插座或者试验接触器可以满足当今试验环境的电气需求,而不会牺牲机械性能。 图1 当安装到受试器件(DUT)板上时,依靠硅橡胶体的压缩将IC299系列接触件挤压到板焊垫上   对于大多数IC生产厂的背面端(组装和试验),试验插座是自动测试设备和当今更高速度、更多输入/输出(I/O)数量及更精细间距的IC器件之间必
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