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文件名称: 集成电路电磁干扰EMC测试方法
  所属分类: 其它
  开发工具:
  文件大小: 124kb
  下载次数: 0
  上传时间: 2020-10-22
  提 供 者: weixin_********
 详细说明:集成电路的广泛应用,反过来对其又提出了更高的要求,人们需要性能更好、可靠性高、成本更低的集成电路。从20世纪60年代以来正如摩尔定律预计的那样每隔18到 24个月芯片上的元件数翻了一番,出现了在芯片的价格持续降低的同时,性能和可靠性不断提高的行业特点。集成的元件数的提高可以通过减小芯片上的关键尺寸(CD)或最小化特征尺寸来实现,这样在集成度提高的同时芯片的速度也提高了。由于集成电路通过高速的脉冲数字信号来进行工作,工作频率越高产生的电磁骚扰频谱越宽,越容易引起对外辐射的EMC方面的问题。
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