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上传时间: 2020-10-22
详细说明：电解电容会随时间而泄漏。图1中的电路可以用来测试电容，决定它们是否值得使用。通过CREF/RREF比值可以设定对泄漏的限制条件。图中的值适用于所有电容的一般测试，从1nF的陶瓷电容，到1000μF的电解电容。电路中，CREF的值接近于待测电容值CX。另外也可以用旋转切换的方法选择RREF，使之大于或小于22 MΩ。
当按键开关闭合时，电容CREF与CX通过各自相应的PNP晶体管充电。当开关打开时，这些电容开始放电。CREF（假设处于良好状况）有额外的放电外接电阻。而待测电容CX则通过自己的内阻放电。如果CX的泄漏大于CREF通过RREF的泄漏，则CX电压下降得更快。于是，运放非反相输
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