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嵌入式系统/ARM技术中的ARM推出先进嵌入式内存测试与修复系统 走向纳米科技时代
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上传时间: 2020-10-21
详细说明：ARM宣布推出新款先进emBISTRx 嵌入式内存测试与修复系统。该系统与ARM Advantage以及Metro内存编译器紧密整合，而该两项内存编译器均为Artisan实体层IP系列中的一员。此款ARM推出的全工嵌入式内存子系统，整合了内建自我测试（Best-in-Self-Test, BIST）及内建自我修复（Best-in-Self-Repair, BISR）IP，使Advantage与Metro系列内存在迈入45纳米、65纳米及90纳米制程时，能提高整体芯片良率、降低芯片成本、提高获利，以及增进制造测试的品质。
ARM emBISTRxTM嵌入式内存测试和修复系统具有高速测试能力，
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