文件名称:
基础电子中的光电倒置开关及其可靠性研究
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上传时间: 2020-10-21
详细说明：摘 要： 针对存储测试技术对测试系统低功耗的要求，研制了微型光电倒置开关。与光电开关相似，此种开关具有低电压驱动、低功率损耗、微小体积、抗干扰，其工作时不需要人为接触操作。在放入式电子测压器实际测试过程中，时常出现由于光电倒置开关不能正常输出上电信号而使测试系统无法工作的问题，可见光电倒置开关的可靠性直接决定了电子测压器的可靠性。为了保证电子测压器在高温、高压、高冲击的实测环境中能够正常上电，设计了一套开关可靠性检测系统，为放入式电子测压器选择光电倒置开关提供了支持。
0 引言
存储测试系统的上电方式是一个非常重要的环节。许多测试都是在保温一定时间后进行的，而测试装置都是在保温前放
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