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文件名称: 集成电路中的高压二极管的反向恢复时间测试系统
  所属分类: 其它
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  文件大小: 303kb
  下载次数: 0
  上传时间: 2020-10-21
  提 供 者: weixin_********
 详细说明:摘摇要:通过对二极管的反向恢复过程及相关应用的研究,指出二极管反向恢复时间测试的必要性,综合比较了三种现有的反向恢复时间的测试方法的优缺点,提出并设计了一个测量范围更广、更实用、精度更高、成本也较低的高压二极管反向恢复时间测试系统。该文对设计方案进行了误差分析,根据仪器在工厂的运行情况及示波器结果显示的比较,证明方案可行且误差较小。   晶体管和二极管常在脉冲电路中作为开关使用,这主要是利用它们对正反向电流表现出的通断特性。二极管与一般开关的不同在于,开关作用由两端所加电压的极性决定,而且导通时有微小的压降,关断时有微小的电流。由于二极管中PN 结电容效应的存在,当二极管外加电压极性翻转时,
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