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元器件应用中的THS4271集成电路实验特性及其应用
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上传时间: 2020-10-21
详细说明：摘要：以TI公司生产的集成运放THS4271为基础搭建实验测试电路，在定义的条件下实验，分别测量了运放的输入失调电压UIO,输入失调电流IIO,共模抑制比CMRR,开环差模放大倍数AUd等主要参数。同时对测量的数据对应的相应的参数进行了简单分析。基于THS4271的单位增益稳定，低失真，高压摆率等特性，举出几个应用实例，来说明其在某些工程领域有一定的应用价值，供今后的使用者参考。
虽然经过多年的发展，在现代集成电路与系统芯片（Systemon Chip,SoC）中，集成电路运算放大器的应用依然非常广泛，并往往由应用需要对其性能提出苛刻的要求。因此围绕高性能集成电路运算放大器的研究经久不衰
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