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文件名称: 基础电子中的电子装备环境试验故障影响因素分析
  所属分类: 其它
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  文件大小: 108kb
  下载次数: 0
  上传时间: 2020-10-20
  提 供 者: weixin_********
 详细说明:摘要:对不同的环境应力(温度循环、高温、低温、振动和湿度)下,电子装备产品环境试验故障影响因素进行了分析。同时对引起故障的机理进行了分析探讨。归纳了不同的应力暴露出的故障模式,对电子装备产品暴露出的一些故障情况进行了统计分析,并根据统计分析结果提出了改进可靠性试验方法的建议。   1.引言   目前,电子产品在武器装备中的重要性越来越高,对电子产品的可靠性要求也在随之不断提高。电子装备现场实际使用结果表明,电子产品的故障率仍然是影响武器装备及战备完好性的主要因素之一。因此,研究电子产品故障与环境应力间的关系,对于确定装备中电子产品的可靠性试验方法、有重点地加强产品的可靠性设计将起到极大的技
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