文件名称:
基于PLLFS锁定时间的测量方法误差分析
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文件大小: 580kb
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上传时间: 2020-10-16
详细说明：随着跳频通信的发展，锁相环频率综合器的锁定时间被限定得愈发严格，TD-LTE标准中已被缩短到20 μs，这要求研发人员精准地把握锁定时间。使用信号源分析仪能够快速且准确地测出锁定时间，但是国内的高校和研究单位还没有广泛普及，目前测试锁定时间的方法混杂，测试误差极大，始终没有形成统一的业内标准方法。鉴于此，选用了一款基于ADF4351的PLLFS模块作为固定测试对象，分别采用5种不同方法针对同一跳变频点的锁定时间进行了实测，并首次以“信号源分析仪法”的测试结果为标准，横向对比了“频谱仪测量法”、“示波器直接测量法”、“检测VCO 调谐电压法”和“检测LD引脚法”的测量误差，对比发现这4种方法无法满足100 μs内锁定时间的测试需求，必须使用信号源分析仪才能测得准确的锁定时间。
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