文件名称:
电源技术中的一种抗SEU存储器电路的FPGA设计
开发工具:
文件大小: 383kb
下载次数: 0
上传时间: 2020-11-04
详细说明：随着我国航空航天事业的迅猛发展，卫星的应用越来越广泛。然而，太空环境复杂多变，其中存在着各种宇宙射线与高能带电粒子，它们对运行于其中的电子器件会产生各种辐射效应。辐射效应对电子器件的影响不可忽视，因为辐射会使器件的性能参数发生退化，以至失效，从而影响卫星的可靠运行，缩短卫星的使用寿命。辐射效应对电子器件的影响很多，其中最主要的有总剂量效应(TID)和单粒子效应(S-EE)。SEE按产生的影响主要包括单粒子翻转(SEU)、单粒子闩锁(SEL)和单粒子烧毁(SEB)等三种类型，其中以SEU最为常见。在各种辐射效应当中，存储器对SEU最为敏感，所以，对存储器的抗辐射设计首先要考虑的就是抗SEU设计。
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