文件名称:
嵌入式系统/ARM技术中的高速串行总线的常用测试码型
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文件大小: 264kb
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上传时间: 2020-11-03
详细说明：本文讨论了高速串行链路中常用的测试码型伪随机码流的原理，以及不同的测试码型对物理层测试结果的影响。
高速串行总线的常用测试码型
在当今的电信和计算机产品上，相比传统的并行总线，电路中的串行总线越来越多，速率越来越快。比如通信产品中的10GBase-KR、CPRI2代，计算机中的PCIeGen2、SATA6G，存储产品中的SAS6G、FC8.5G，这些串行总线都陆续的跨过了5Gbps。由于速率比较高，使得串行总线上的相关的收发器芯片（SERDES）、连接器、单板、背板的设计面临着越来越多的挑战。对于这些高速串行总线的物理层测试，测试码型的选用至关重要，在很多串行总线的规范中对测试码型
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