文件名称:
EDA/PLD中的FPGA 电路动态老化技术研究
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文件大小: 211kb
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上传时间: 2020-11-03
详细说明：摘 要：近年来，随着FPGA 电路在军工和航天领域的广泛应用，用户对FPGA 电路的可靠性要求也越来越高。在集成电路的可靠性*估试验中，动态老化试验是最重要的试验之一，FPGA 动态老化技术的实现可以提高FPGA 电路的可靠性。文章通过研究FPGA 电路内部结构和功能模块，讨论FPGA 电路加载配置过程的原理和流程，通过对动态老化和静态老化的对比试验和结果分析，研究出FPGA 电路动态老化试验方法，并在工程实践中得到了成功实现和应用。
1 引言
FPGA 是现场可编程门阵列（Field ProgrammingGate Array）的缩写，用户可以编写程序对FPGA 内部的逻辑模块和
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