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模拟技术中的基于片上ADC／DAC实现精度可调ADC的方法
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文件大小: 192kb
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上传时间: 2020-11-03
详细说明：摘要: 在数据采集系统中，由于成本限制和系统其他模块功能要求，系统中MCU的ADC精度有时无法满足系统测量精度要求。基于上述原因，提出一种利用MCU自带的10位ADC和DAC，结合运放、电容、电阻等元件搭建的外围硬件电路，实现将MCU自带的ADC转换为精度可调的ADC。软件设计是通过校正方法减小由硬件导致的ADC测量误差。实验结果表明，该系统可实现10～20位精度可调的ADC，测量精度最高可提高1 024倍，能够满足大多数情况下的测量精度要求。
某系统的A／D模块需实现检测输入电压值，变化范围为0～58 V。主芯片选用NXP公司的ARM7系列的LPC2368，片上自带10位ADC和DA
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