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RFID技术中的解决LTE手机射频信道衰落测试方案
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上传时间: 2020-11-03
详细说明：随着全球蜂窝通信网络运营商逐步采用LTE，满足所有LTE要求的需求也在增长，其中包括衰落特性。第三代合作伙伴计划(3GPP) 在其TS 36.521-1标准中规定了衰落的技术规格，用以测量LTE手机的衰落特性。
传统衰落特性测试方法采用外部衰落模拟器和噪声源，通过常规射频测试设备修改信号。这种设备显着增加了整个测试系统的成本，并且需要额外的软件控制并协调各个仪器。本文将介绍一种创新的全数字衰落模拟方法，这种方法可极大减少增加贵重设备所产生的成本，同时提高测量精度并缩短测试时间。
模拟信号衰落
如图1所示，实际系统环境下，发射机与接收机之间存在无数条路径。显然，不可能模拟所有路
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