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文件名称: 嵌入式系统/ARM技术中的低速与全速的USB总线状态
  所属分类: 其它
  开发工具:
  文件大小: 102kb
  下载次数: 0
  上传时间: 2020-11-13
  提 供 者: weixin_********
 详细说明:关于低速与全速的总线状态,需要特别加以注意与了解。在低速与全速的设各上,差动“1”是以15 kΩ的电阻拉至接地端,将D+拉升至超过2.8 V,而D一则是通过1.5 kΩ电阻拉至3.6 V,将D-降低到0.3V;差动“0”,则是刚好相反。若以同样的提升电阻与下拉电阻的连接,则D-高于2.8 V,而D+低于0.3V。如表所列,USB规范书中将信号的传递状态分为J状态与K状态。但需注意的是这两种状态的定义在全速设备与低速设备刚好是相反的。这是由于R1提升电阻在全速设备与低速设备刚好放置于不同的D+与D-差动数据线上。也就是说,对于J状态而言,全速设备处于差动1的状态,低速设各则处于差动0的状态;对于
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