文件名称:
电子测量中的模式发生器在数字设计测试中的应用
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文件大小: 184kb
下载次数: 0
上传时间: 2020-11-12
详细说明：数字设计的测试通常需要一个或多个数字信号，而某些信号非常难以生成。模式发生器是专为解决这个问题而设计的。测试某种设备需要在该设备中采用任何一种数字激励信号，模式发生器大都可以提供这些信号。另外，工程师可以使用模式发生器来将数字模式集成在整个测试序列的任何位置。另外，模式发生器还非常适合于半导体电子测试等应用，这些应用需要模式激励数据进行故障测试，并且数字系统通过用户定义的控制算法运行。在软件方面，模式发生器可以用作调试工具，软件工程师可以用它来开发针对待测设备(DUT)的应用。
解决数字测试难题
在许多数字测试中，硬件和软件工程师们都需要具备生成数字激励信号的能力，从而在硬件设计和
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