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基础电子中的一款雷达芯片的基于扫描路径法可测性设计
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文件大小: 285kb
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上传时间: 2020-11-11
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基于扫描路径法的可测性设计技术是可测性设计(DFT)技术的一个重要的方法，这种方法能够从芯片外部设定电路中各个触发器的状态，并通过简单的扫描链的设计，扫描观测触发器是否工作在正常状态，以此来检测电路的正确性。但随着数字电路朝着超大规模的方向发展，设计电路中使用的触发器的数目也日趋庞大，怎样采用合适的可测性设计策略，检测到更多的触发器，成为基于扫描路径法的一个关键问题。
本文采用基于扫描路径法的可测性设计技术，对一款约750万门级雷达芯片的实际电路进行可测性设计。在设计中通过使用时钟复用技术、时钟电路处理技术以及IP隔离技术等几种有效的设计策略，大大提高了芯片的故障覆盖率
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