文件名称:
嵌入式系统/ARM技术中的8位RISC_CPU可测性设计
开发工具:
文件大小: 185kb
下载次数: 0
上传时间: 2020-11-09
详细说明：摘要：本文介绍了一款RISC_CPU的可测性设计,为了提高芯片的可测性,采用了扫描设计和存储器内建自测试,这些技术的使用为该芯片提供了方便可靠的测试方案。
1 引言
随着IC设计方法与工艺技术的不断进步，集成电路结构和功能日益复杂，测试问题成为必 须考虑的关键问题，测试成本作为整个IC产品成本的主要组成部分，也受到了极大的重视。由 于国内自动测试设备（Automatic Testing Equipment）主要依赖进口，价格昂贵，测试图形产生， 特别是测试量产过程的花费（例如测试时间），就显得尤为重要。为了使测试成本保持在合理 的限度内，最有效的方法就是采用可测性设计（Design
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