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电子测量中的泰克为PCI Express 3.0推出逻辑分析仪测试解决方案
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文件大小: 86kb
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上传时间: 2020-11-07
详细说明：泰克公司日前宣布，为下一代PCIe规范PCI Express 3.0推出完善的测试解决方案，用一个工具涵盖协议层分析和物理层分析。泰克最新推出的TLA7SA16和TLA7SA08逻辑协议分析仪模块、总线支持软件和探头相结合，使得PCIe 3.0开发人员能够以独有的方式查看系统行为的时间相关特点，从协议层分析开始一直到物理层，调试难检问题的根本原因。
泰克PCIe 3.0测试解决方案基于泰克上一代PCIe协议和逻辑分析产品，这些产品已经被业内芯片厂商、系统设计人员和高性能嵌入式工程师广泛采用。它还扩大了泰克之前推出的PCIe 3.0电接口测试和验证产品，包括适用于DPO/DSA/MSO70
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