文件名称:
电子测量中的中规模集成电路功能测试仪的设计方案
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文件大小: 214kb
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上传时间: 2020-11-07
详细说明：集成电路的测试技术随着集成电路开发应用的飞速发展而发展。集成电路测试仪也从最初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路。集成电路测试仪按测试门类可分为：数字集成电路测试仪、存储器测试仪、模拟与混合信号电路测试仪、在线测试系统和验证系统等。目前市场上的测试仪产品功能较单一，价格非常昂贵，给电路的测试、维护带来不便。因此，研究开发简单快捷、具有一定智能化的集成电路测试仪有很高的实用价值[1-2]。
在高等学校的电子实验教学中，经常要用到如模数转换器（ADC）、数模转换器（DAC）、555集成定时电路、3524开关电源控制器等中规模集成电路。由于学生通常是初次接触使用芯片，
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