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对智能卡微控制器的动态分析防护：从测试模式到用户模式的不可逆转换
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文件大小: 161kb
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上传时间: 2020-11-14
详细说明：所有的微处理器都有一个测试模式，那是在制造过程中检验芯片用的，即当半导体仍在晶圆片上或它们已 经被封装成了模块时用于执行内部测试程序。测试模式允许使用那些在芯片日后实际应用中严格禁止的对内 存的访问类型。出于技术原因，这种模式不可避免的需要能从EEPROM读出数据。
从测试模式向用户模式的转换必须是不可逆的，可由在芯片上采用多晶硅熔丝来实现。在这种情况下，当 电压加在芯片的（提供这一用途的）测试点上，此电压引起熔丝烧断。于是芯片用硬件转换为用户模式。通 常，这是不可逆的。然而，由于熔丝的特性可以想像到它在芯片表面上是比较大的结构，如图1所示。当覆 盖熔丝的钝化层部分被去掉后，则熔丝就可以
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