文件名称:
RFID技术中的针对V93000 SoC测试系统，惠瑞捷发布Port Scale射频测试方案
开发工具:
文件大小: 61kb
下载次数: 0
上传时间: 2020-11-30
详细说明：半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司(Verigy Ltd.)针对V93000 SoC测试机台推出Port Scale射频(RF)测试解决方案。惠瑞捷针对V93000 SoC测试系统开发Port Scale射频测试解决方案是为了解决无晶圆厂半导体设计公司、整合组件制造商、以及半导体委外封装及测试公司目前和未来的需求。
可提供快速架构
Port Scale射频测试解决方案的设计采用固态半导体组件，因此所有的射频资源都集中在V93000的测试头中。不同于其它采用速度慢的外接设备的解决方案，Port Scale是以高速的固态半导体组件为基础所设计的射频测试解决方案，完全不会减损速度、性
(系统自动生成,下载前可以参看下载内容)
下载文件列表
相关说明
- 本站资源为会员上传分享交流与学习,如有侵犯您的权益,请联系我们删除.
- 本站是交换下载平台，提供交流渠道，下载内容来自于网络，除下载问题外，其它问题请自行百度。
- 本站已设置防盗链，请勿用迅雷、QQ旋风等多线程下载软件下载资源，下载后用WinRAR最新版进行解压.
- 如果您发现内容无法下载，请稍后再次尝试；或者到消费记录里找到下载记录反馈给我们.
- 下载后发现下载的内容跟说明不相乎，请到消费记录里找到下载记录反馈给我们，经确认后退回积分.
- 如下载前有疑问，可以通过点击"提供者"的名字，查看对方的联系方式，联系对方咨询.
