文件名称:
电子测量中的基于边界扫描技术的数字系统测试研究
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文件大小: 228kb
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上传时间: 2020-12-10
详细说明：当今，微电子技术已经进入超大规模集成电路(VLSI)时代。随着芯片电路的小型化及表面封装技术(SMT)和电路板组装技术的发展，使得传统测试技术面临着巨大的挑战。在这种情况下，为了提高电路和系统的可测试性，联合测试行动小组(JTAG)于1987年提出了一种新的电路板测试方法--边界扫描测试，并于1990年被IEEE接纳，形成了IEEE1149．1标准，也称为JTAG标准[1]。这种技术以全新的"虚拟探针"代替传统的"物理探针"来提高电路和系统的可测性。由于JTAG标准的通用性很好，现在许多IC公司都提供了支持边界扫描机制的IC芯片，甚至部分FPGA和CPLD芯片也采用了这一技术。 本文介绍支持J
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