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电子测量中的A/D转换芯片的测试环境构成及测试方法
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文件大小: 105kb
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上传时间: 2020-12-10
详细说明：摘要：介绍了通过Labview编程环境，运用系统集成的方法，集成具有GPIB接口的测试设备，实现数字电路测试系统向混合信号测试向扩展的方法。并阐述了A/D转换芯片的几种主要测试方法：柱形图分析法、离散参数傅立叶变换法、拍频测试法等的基本原理及实现方法。
关键词：集成电路测试 混合信号测试 系统集成
所谓的混合信号测试，是指对A/D、D/A、锁相环等兼有数字和模拟两种信号的混合电路芯片的测试。混合信号测试的测试时间长、费用高、测试系统结构复杂，在实现上具有一定难度。而数字电路测试系统有着出色的测试能力，如足够的向量深度、灵活的数据格式、常规的交直流参数测试能力等。添加必要的程控模拟源以及模拟
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