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元器件应用中的利用单片机消除热电阻测量误差
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上传时间: 2020-12-09
详细说明：利用单片机消除热电阻测量误差
张学峰江苏食品职业技术学院机电工程系 江苏淮安 223001
半导体热电阻结构简单，其电阻值大，反应速度快，灵不受外界的影响，但是正常采用的热敏电阻是具有负温度特性的非线性元器件，且输出电势比较小，必须经过放大才能满足ADC的输入要求，放大电路的误差主要来源于放大器的失调电压和增益Av的漂移，本文介绍单片机对上述测量误差进行修正的方法。1 对半导体热敏电阻非线性的影响热敏电阻负温度特性的非线性，其关系如下：Rr=AEB/T 此非线性使得他很难用相关的电路来进行补值，在使用有微处理器的系统中很好的解决这个问题。实践证明因电路的离散性直接使用此公式的误差很大，使
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