文件名称:
采用边界扫描法测试系统级芯片互连的信号完整性
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文件大小: 107kb
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上传时间: 2020-12-09
详细说明：互连中的信号完整性损耗对于数千兆赫兹高度复杂的SoC来说是非常关键的问题，因此经常在设计和测试中采用一些特殊的方法来解决这样的问题。本文介绍如何利用片上机制拓展JTAG标准使其包含互连的信号完整性测试，从而利用JTAG边界扫描架构测试高速系统级芯片(SoC)的互连上发生的时延破坏。 互连中的信号完整性损耗对于数千兆赫兹高度复杂的SoC来说是非常关键的问题，因此经常在设计和测试中采用一些特殊的方法来解决这样的问题。我们认为，完整性损耗(本文有时也称为完整性故障)是在电压失真(噪声)和时延破坏(偏移)超过能接受的门限时发生的。这样的门限取决于制造所采用的工艺技术。这种故障情况的发生有着许多不
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