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上传时间: 2020-12-09
详细说明：现在，边界扫描技术可用于以器件为中心方式的测试中，使得在开发、调试和生产测试环境中采用JTAG（联合测试行动组）测试技术。JTAG技术是指每个器件引脚的测试点都建在器件内，并把这些测试点连接到5-Wire串行总线上。可以在简单的PC机上进行测试开发和执行测试。这种测试技术的特点是：·PC成为完整的测试系统；·成本低，开发时间短及通用硬件。随着元件封装密度继续增加，测试和调试的物理接入正在减少。几年前就预见JTAG边界扫描测试能解决此问题，但是，当时只有少量器件符合JTAG。现在，解决测试接入问题已取得进展，用JTAG作为解决问题的技术，正在使人们更加关注，使得半导体厂家在不断地推出JTAG依从
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