文件名称:
电子测量中的基于扫描的SOC全速测试及应用
开发工具:
文件大小: 93kb
下载次数: 0
上传时间: 2020-12-08
详细说明：随着现代超大规模集成电路的规模日趋增大，对集成电路测试的要求也在不断提高。对于工作在高速下的数字系统，不光要针对其逻辑结构进行测试，还要求其信号能在指定周期内达到稳定状态。这大大提高了测试要求，不仅要求对电路逻辑缺陷进行测试并且要求设计者能对时序缺陷进行测试。因此为了提高测试质量和满足时序测试的要求，必须在额定时钟速度下施加测试矢量并观察响应，即进行全速(at-speed)测试。
1 转换故障、路径延迟故障的模型以及测试矢量生成进行全速测试，首先是要选择测试时针对的故障模型，最常用的全速测试模型有转换故障模型和路径延迟故障模型两种。转换故障是指电路中的缺陷使单条连线上传播的信号变慢，信号变慢
(系统自动生成,下载前可以参看下载内容)
下载文件列表
相关说明
- 本站资源为会员上传分享交流与学习,如有侵犯您的权益,请联系我们删除.
- 本站是交换下载平台，提供交流渠道，下载内容来自于网络，除下载问题外，其它问题请自行百度。
- 本站已设置防盗链，请勿用迅雷、QQ旋风等多线程下载软件下载资源，下载后用WinRAR最新版进行解压.
- 如果您发现内容无法下载，请稍后再次尝试；或者到消费记录里找到下载记录反馈给我们.
- 下载后发现下载的内容跟说明不相乎，请到消费记录里找到下载记录反馈给我们，经确认后退回积分.
- 如下载前有疑问，可以通过点击"提供者"的名字，查看对方的联系方式，联系对方咨询.
