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文件名称: 单向双端口SRAM的测试算法
  所属分类: 其它
  开发工具:
  文件大小: 215kb
  下载次数: 0
  上传时间: 2020-12-05
  提 供 者: weixin_********
 详细说明:引 言   单向双端口SRAM是一种专用的存储器,它具有独立的写地址总线和读地址总线,不仅可以实现单端口的读写,还可以对不同地址的存储单元进行同时读写操作,提高了SRAM的性能。本文分析了单向双端口SRAM的失效模式,并描述了相应的基于字的检测算法。 存储器模型   图1表示了3×3的单向双端口SRAM模块的结构示意图,输入为读地址总线、写地址总线和输入数据总线,输出为输出数据总线。每一个存储单元都有四个端口,分别是数据写入(BW),数据读出(BR),写地址端口(WA)和读地址端口(RA)。在这种结构中,同一列单元的数据写入端和读出端连到总线上,输出采用了线与的方式。对于字长大
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