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文件名称: 嵌入式系统/ARM技术中的内嵌式检测:新一代AOI技术
  所属分类: 其它
  开发工具:
  文件大小: 94kb
  下载次数: 0
  上传时间: 2020-12-13
  提 供 者: weixin_********
 详细说明:一些评估显示,全世界只有20%-30%的SMT生产线装配了自动光学检测(AOI)系统。尽管器件的尺寸近年来已经缩小到人眼可以观察的范围之外,而且AOI也显示出某些诱人的性能,但是市场对其价值仍持怀疑态度。作为对市场情况的回应,检测技术现在正向着更小、更快的验证原则发展。EPV(内嵌式检测)是一项新兴技术,它将检验技术植入设备的运行程序中,能回答装配者所关心的外围成本、占地面积和投资回报率等问题。   嵌入生产过程中的验证     AOI业内人士已经看到了每条生产线上配置多个线上检测系统的前景:分别在版面印刷、器件贴装和回流之后达到100%的检测。在每一工艺后即时检测出焊膏
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