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电子测量中的一种数字集成电路测试系统的设计
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文件大小: 154kb
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上传时间: 2020-12-13
详细说明：摘要:介绍了一种数字集成电路测试系统的工作原理、组成。提出了系统的软硬件设计方案。该系统基于自定义总线结构，可测试电平范围宽。
关键词:数字集成电路 测试功能 测试通道板 精密测量单元
随着数字集成电路的广泛应用，测试系统就显得越来越重要。在网络化集成电路可靠性试验及测试系统项目中，需要检验某些具有宽电平范围的军用数字集成电路芯片，而市场上常见的中小型测试系统可测电平范围达不到要求，而大型测试系统价格昂贵。本文介绍了为此项目研制的一种数字集成电路测试系统，可测电平范围达±32V，使用方便，且成本较低。
测试系统结构及工作原理
系统需要对集成电路进行功能
(系统自动生成,下载前可以参看下载内容)
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