文件名称:
电子测量中的系统级芯片开发需要解决易测性设计问题
开发工具:
文件大小: 87kb
下载次数: 0
上传时间: 2020-12-09
详细说明：从根本上讲，复杂系统级芯片的测试与验证问题与CMOS技术以前一直推测的物理极限存在冲突。在设计系统级芯片时，设计人员需要处理数百万门线路的设计，但即使解决了复杂的线路设计，设计好的电路仍然需要进行验证和测试，这时候就会出现半导体物理方面的问题，为已十分复杂的系统增添许多不希望看到的物理效应。为此，验证和测试技术人员不得不急切地开发新工具和技术，以克服0.18μm及更微细工艺所带来的新难题。我们以可编程逻辑器件(PLD)设计作为一个例子。现在人们已经能够在一个PLD芯片上设计数百万门线路，所完成的系统采用复杂的工艺，至少用到了六个金属化层。芯片内除包含基本的门阵列以外，还含有存储器模块和其它IP
(系统自动生成,下载前可以参看下载内容)
下载文件列表
相关说明
- 本站资源为会员上传分享交流与学习,如有侵犯您的权益,请联系我们删除.
- 本站是交换下载平台，提供交流渠道，下载内容来自于网络，除下载问题外，其它问题请自行百度。
- 本站已设置防盗链，请勿用迅雷、QQ旋风等多线程下载软件下载资源，下载后用WinRAR最新版进行解压.
- 如果您发现内容无法下载，请稍后再次尝试；或者到消费记录里找到下载记录反馈给我们.
- 下载后发现下载的内容跟说明不相乎，请到消费记录里找到下载记录反馈给我们，经确认后退回积分.
- 如下载前有疑问，可以通过点击"提供者"的名字，查看对方的联系方式，联系对方咨询.
