文件名称:
EDA/PLD中的基于BIST的FPGA逻辑单元测试方法
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文件大小: 188kb
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上传时间: 2020-12-07
详细说明：摘 要：给出了一种基于内建自测(BIST)的测试现场可编程门阵列(FPGA)逻辑单元的方法，讨论了测试的配置结构、故障覆盖率和测试中出现的问题及解决办法。实验表明，该测试方法具有所需测试向量少、故障覆盖率高、简便适用等优点。 关键词：现场可编程门阵列；内建自测；响应检验电路；测试 引 言 现场可编程门阵列FPGA(Field ProgrammableGate Array)是一种新型器件，它将门阵列的通用结构与现场可编程的特性结合于一体，因而受到广泛关注。FPGA 测试中，测试激励的多种测试生成方法，都有其一定局限性，不能求出所有故障，而且随着集成电路规模的迅速膨胀，电
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