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提高DFT设计测试覆盖率的一种有效方法
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上传时间: 2021-03-23
详细说明：伴随着现代大规模集成电路制造工艺的快速发展，设计工程师必需直面芯片制造过程中可能产生的物理缺陷。现今流行的可测试性设计(DFT：DesignForTestability)应运而生，并为保证芯片的良品率担任着越来越重要的角色。 在DFT设计中，测试覆盖率及其测试效率是最重要的指标。一方面，理想的设计目标当然希望测试能够遍及整个芯片的逻辑，尽管理想值100%是不容易达到的;另一方面，测试效率亦非常重要，设计工程师总希望用最少的测试向量达到预期的测试覆盖率，来降低芯片的测试成本。 当然，DFT设计必须保证正常的逻辑功能为前提。不幸的是，功能设计总会忽略一些潜在的问题，导致最终的测试覆盖率往往
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