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van逝耦合光纤折射仪基于倾斜的光纤布拉格光栅和D形光纤。
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上传时间: 2021-03-18
详细说明：提出并通过实验证明了一种基于强光纤到光纤耦合的新型尖端反射式功率参考折光仪，适用于大范围的周围折射率（SRI）（1.33至1.45）。将一个短的D形光纤短截线平行放置，并与包含弱倾斜布拉格光栅（TFBG）的另一根标准圆形光纤紧密接触。 TFBG将来自圆形光纤纤芯的光耦合到其包层中，并在那里保持导引。除了通过接触界面进行直接光耦合之外，通过引导的包层模式产生的渐逝场还通过在整个光纤对所在的介质中进行隧穿，而穿透了周围环境并到达了D光纤纤芯。隧穿的数量在很大程度上取决于SRI，因此D光纤收集的总光量可以衡量SRI。已获得约1000至13000 nW / RIU（折射率单位）的灵敏度，其结果与温度无关（不确定性在+/- 10 nW之内）。如果需要，可以通过测量TFBG光谱来参考温度。
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