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基于TDC的低成本CP-PLL内置自检
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文件大小: 887kb
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上传时间: 2021-03-17
详细说明：为了确保电荷泵闭环（CP-PLL）的资格，完整的内置自测（BIST）方案应提供测量时钟抖动和检测CP-PLL中的故障的功能。 本文提出了一种低成本的BIST结构，该结构既提供了检测到的故障，又提供了测量到的时序抖动。 基于提出的时间数字转换器（TDC）的结构具有高分辨率，并且大多数TDC块都基于CP-PLL中的现有块，从而降低了测试成本和面积开销。 该电路已在台积电0.13微米CMOSCraft.io中进行了设计和仿真。 仿真结果表明，该算法的分辨率约为0.9865 ps，故障覆盖率为98.33％。
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