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  1. SJT 11281-2007发光二极管（LED）显示屏测试方法

  2. 本标准对LED显示屏的机械、光学、电学等主要技术性能进行了分级，并严格规定了测试方法。 本标准适用于各类LED显示屏（以下简称显示屏）。

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2009-06-11
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：peihg

  1. 半导体发光二极管LED的测试方法

  2. 详细介绍了LED的测试标准和方法，有利于您更方便的了解LED的应用及测试

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2013-07-30
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：caojun121123

  1. ZT2835W0M1贴片发光二极管规格书.pdf

  2. ZT2835W0M1贴片发光二极管规格书pdf,ZT2835W0M1贴片发光二极管规格书zT2835WOM1米米米(0.2W) CRI Ranks/ CRI/ CRI Ranks/ CRI/ CR⊥ Ranks/ CRI/ 档次 显色性 档次 显色性 档次 显色性 RA70-75 RA80-8 RA90-95 RA8590 无显色要求 2 RA75-80 (Ra>60) Bin Range of Luminous Intensity亮度等级代码(T=25℃) Lumen ranks档次 u

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-09-13
    • 文件大小：843776
    • 提供者：weixin_38744375

  1. 氮化镓基发光二极管蓝宝石衬底片国家标准

  2. 氮化镓基发光二极管蓝宝石衬底片国家标准,本标准规定了外延氮化镓的高纯蓝宝石单晶抛光衬底片的技术要求、测试方法、检验规则、标志、包装运输和贮存等内容。 本标准适用于制备半导体发光二极管的外延氮化镓的高纯蓝宝石单晶抛光衬底片（以下简称“衬底片”）。

  3. 所属分类：项目管理

    • 发布日期：2013-02-24
    • 文件大小：387072
    • 提供者：sdzxzg

  1. 二极管测试标准

  2. 二极管测试标准，性能，正向电压，反向漏电，色温，显色性，等等的测量

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2012-11-02
    • 文件大小：290816
    • 提供者：oganen12345

  1. GJB 8124-2013 有机发光二极管显示器测试方法.pdf

  2. GJB 8124-2013 有机发光二极管显示器测试方法，最新的标准，定义了OLED显示器的测试方法

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2020-07-09
    • 文件大小：5242880
    • 提供者：weixin_42546657

  1. 汽车电子保护器件SM5S22A瞬态抑制二极管特性

  2. 汽车电子的防护方案设计需要考虑到过压/过流两个方面，在汽车电子的防护应用中多选用免更换的PTC自恢复保险丝。而过压器件则多倾向于选择具备长寿命、高可靠性的运行状态的TVS管。是在工程师的的不断技术创新中，该芯片满足汽车专用测试标准ISO7637-2的测试需求，可确保所有涉及、开发、制造与安装的组建符合最高等级的汽车标准。SM5S系列TVS二极管适用于敏感的电子保护对抗引起的电感负载开关和照明电压瞬变，特别是对汽车负载突降保护的应用程序。 汽车设计中越来越多的功率器件和高数据速率连接使得人们更加

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-07-29
    • 文件大小：51200
    • 提供者：weixin_38686080

  1. 解读二极管浪涌电流测试电路

  2. 该文讲述了二极管正向浪涌电流测试的基本要求和标准测试方法，针对标准测试方法存在的不足，设计实现了采用信号控制、电容储能和大功率场效应管晶体管电流驱动的电路解决方案，简洁而又高效地实现了二极管正向浪涌电流的测试。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-14
    • 文件大小：91136
    • 提供者：weixin_38657102

  1. 集成电路中的关于二极管电路中检测浪涌电流

  2. 对于电路来说，浪涌电流是非常影响整体运行效率的一个问题。设计者们想方设法的对浪涌电流进行规避，因此各种各样的测试方法应运而生。在本文中，小编将为大家介绍一种二极管正向浪涌电流的测试基本电路。　　正弦半波脉冲电流的产生　　二极管的规格繁多，常见的额定通态电流从数百毫安到数百安培甚至更高，IFSM测试需要的峰值脉冲电流要求达到数十倍的额定通态电流值。标准的测试方法是采用大容量工频变压器，截取市电交流波形来产生时间常数为10ms、导通角为0°～180°的正弦半波脉冲，如图1。图1正向浪涌电流测试电路　

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-16
    • 文件大小：86016
    • 提供者：weixin_38709312

  1. 基础电子中的SJ/T 11393-2009 半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范

  2. 引言 　　本空白详细规范 半导体光电子器件的一系列你看看详细规范这一，并应与下列标准 起使用。 　　GB/T 2423.1 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法  试验A：低温（idt IEC 60068-2-1） 　　GB/T 4589.1--2006 半导体器件  分立器件和集成电路总规范（IEC 60747-10：1991，IDT） 　　GB/T4937 半导体器件机械和气候试验方法（idt IEC 61749） 　　GB/T 12565-1990 半导体器件 光电子器件分规

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-23
    • 文件大小：26624
    • 提供者：weixin_38597300

  1. 显示/光电技术中的SJT 11394-2009 半导体发光二极管测试方法

  2. 1.范围 　　本标准规定了半导体发光二极管（以下简称器件）的辐射度学、光度学、色度学、电学、热学参数以及电磁兼容性的测试方法。 　　本标准适用于可见光、白光半导体发光二极管。紫外发射二极管、结外发射二极管、半导体发光组件和芯片的测试可参考执行。 　　2.规范性引用文件 　　下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-23
    • 文件大小：31744
    • 提供者：weixin_38688969

  1. 显示/光电技术中的SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法

  2. 1.范围 　　本标准规定了半导体发光二极管芯片（以下简称芯片）的辐射度学、光度学、色度学、电学、热学参数以及电磁兼容性的测试就去。 　　2.规范性引用文件 　　下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然后，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适合于本标准。 　　GB/T 5698-2001  颜色术语 　　GB/T 11499-200

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-23
    • 文件大小：33792
    • 提供者：weixin_38719719

  1. LED照明中的LED产品质量分析与判断标准

  2. 为了发展照明LED技术，发达国家都非常重视LED测试方法及标准的研究。例如美国国家标准检测研究所(NIST)组织国际知名测试专家开展LED测试的研究，重点研究LED发光特性、温度特性和光衰特性等测试方法，试图建立整套的LED测试方法和技术标准，在LED测试方面已经走在了世界的前列。 　　半导体发光二极管(LED)因其体积小、定向发射光、高亮度、PN结电特性等特点，从而在品质的评价和检测方法方面产生许多新的问题。不同的应用场合，决定了对LED产品的性能要求。从光学性能来看，用于显示的LED，主要

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-21
    • 文件大小：107520
    • 提供者：weixin_38596093

  1. 基础电子中的TVS二极管在便携设备ESD中应用

  2. 便携式设备如笔记本电脑、手机、PDA、MP3播放器等，由于频繁与人体接触极易受到静电放电(ESD)的冲击，如果没有选择合适的保护器件，可能会造成机器性能不稳定，或者损坏。更坏的情况是查不出确切的原因，使用户误认为是产品质量问题而损坏企业信誉。 　　一般情况下，对此类设备暴露在外面可能与人体接触的端口都要求进行防静电保护，如键盘、电源接口、数据口、I/O口等等。现在比较通用的ESD标准是IEC61000-4-2，应用人体静电模式，测试电压的范围为2kV～15kV(空气放电)，峰值电流最高为20

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-20
    • 文件大小：104448
    • 提供者：weixin_38500944

  1. 基础电子中的TVS二极管在便携设备ESD保护中

  2. 便携式设备如笔记本电脑、手机、PDA、MP3播放器等，由于频繁与人体接触极易受到静电放电(ESD)的冲击，如果没有选择合适的保护器件，可能会造成机器性能不稳定，或者损坏。更坏的情况是查不出确切的原因，使用户误认为是产品质量问题而损坏企业信誉。 一般情况下，对此类设备暴露在外面可能与人体接触的端口都要求进行防静电保护，如键盘、电源接口、数据口、I/O口等等。现在比较通用的ESD标准是IEC61000-4-2，应用人体静电模式，测试电压的范围为2kV～15kV(空气放电)，峰值电流最高为20A/

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-20
    • 文件大小：103424
    • 提供者：weixin_38732842

  1. 电子测量中的解读二极管浪涌电流测试电路

  2. 该文讲述了二极管正向浪涌电流测试的基本要求和标准测试方法，针对标准测试方法存在的不足，设计实现了采用信号控制、电容储能和大功率场效应管晶体管电流驱动的电路解决方案，简洁而又高效地实现了二极管正向浪涌电流的测试。     正弦半波脉冲电流的产生     二极管的规格繁多，常见的额定通态电流从数百毫安到数百安培甚至更高，IFSM测试需要的峰值脉冲电流要求达到数十倍的额定通态电流值。标准的测试方法是采用大容量工频变压器，截取市电交流波形来产生时间常数为10ms、导通角为0°～180°的正弦半波脉冲

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-19
    • 文件大小：106496
    • 提供者：weixin_38677808

  1. MAX2140内部ESD二极管的保护电路设计

  2. 在进行装配、测试和故障处理时,有时需要对MAX2140 SDARS接收器进行非标准操作。其中一个例子就是热插拔操作,即在不关闭电源的情况下,直接将该器件与电路进行连接或断开连接。热插拔操作在汽车电子领域尤其常见,因为部件的模块化设计,模块之间的距离以及多个系统同时工作的需求,常常需要重新连接模块。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-18
    • 文件大小：138240
    • 提供者：weixin_38722464

  1. 电子测量中的测试二极管反向恢复特性的分析仪

  2. 测试二极管的反向恢复特性一般都需要复杂的测试设备。必须能够建立正向导通条件、正向闭锁状态、及两者间的过渡。还需要有一种从所得到的波形中提取特征的手段。总而言之，这并不是一项很简单的例行操，作应由专业人员来完成这项复杂的工作。这个事实说明了工程师们为什么通常都会依赖于公布的数据。 　　但如果测试比较简单，亲自动手来检查反向恢复时间是有好处的。这种设置可以让你在相同的条件和没有这种规范的测试设备下比较不同厂商的设备，如驱动集成电路的衬底二极管，齐纳二极管及标准整流器等。（由于测试参数有很多组合

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-22
    • 文件大小：119808
    • 提供者：weixin_38689191

  1. 二极管反向恢复特性的的测量设备和过程实现

  2. 测试二极管的反向恢复特性一般都需要复杂的测试设备。必须能够建立正向导通条件、正向闭锁状态、及两者间的过渡。还需要有一种从所得到的波形中提取特征的手段。总而言之，这并不是一项很简单的例行操，作应由  人员来完成这项复杂的工作。这个事实说明了工程师们为什么通常都会依赖于公布的数据。　　但如果测试比较简单，亲自动手来检查反向恢复时间是有好处的。这种设置可以让你在相同的条件和没有这种规范的测试设备下比较不同厂商的设备，如驱动集成电路的衬底二极管，齐纳二极管及标准整流器等。（由于测试参数有很多组合，直接比

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：124928
    • 提供者：weixin_38622827

  1. SJT 11394-2009 半导体发光二极管测试方法

  2. 1.范围 　　本标准规定了半导体发光二极管（以下简称器件）的辐射度学、光度学、色度学、电学、热学参数以及电磁兼容性的测试方法。 　　本标准适用于可见光、白光半导体发光二极管。紫外发射二极管、结外发射二极管、半导体发光组件和芯片的测试可参考执行。 　　2.规范性引用文件 　　下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的版本。凡是不注日期的引用文

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-19
    • 文件大小：29696
    • 提供者：weixin_38697557
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