传感器故障检测 分类问题陈述： 建立基于给定训练数据的预测晶圆传感器质量的分类方法。 资料说明： 客户端将在给定位置分批发送多组文件中的数据。 数据将包含晶片名称和每个晶片的590列不同传感器值。 最后一列将为每个晶圆提供“好/坏”值。 “好/坏”列将具有两个唯一值+1和-1。 “ +1”代表不良晶片。 “ -1”代表好晶片。 除了培训文件，我们还需要客户端提供一个“ schema”（事实来源）文件，其中包含有关培训文件的所有相关信息，例如： 文件名，文件名中的日期长度值，文件名中的