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  1. 内部损耗系数的测量半导体光放大器的内部损耗系数的测量

  2. 在较宽的注入电流范围内,通过实验和理论研究了半导体光放大器(SOA)的内部光损耗,提出了一种没有噪声系数谱的新型测量方法。 从理论上考虑SOA的内部损耗,推导了输入输出特性的修正公式。 根据实际测量的输入输出特性曲线,在不同注入电流下测量了SOA的内部损耗系数。 结果表明,随着注入电流的增加,SOA的内部损耗系数减小。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-03-03
    • 文件大小:928768
    • 提供者:weixin_38552239